Pandora-arg — Новости о строительстве, ремонте и дизайне

Ультрамикроскопическая структура защитных пленок

Большие успехи в изучении тонкой структуры клеевых слоев были достигнуты в самое последнее время благодаря применению нового метода, так называемой электронной микpоскопии. Разрешающая способность обычного микроскопа не дает возможности получать увеличения более чем в 1500—2000 раз. Использование вместо белого света ультрафиолетовых лучей позволяет достигнуть увеличений в 3000 — 3500 раз. Однако даже такие большие увеличения не раскрывают тонкого строения клеевых соединений, в электронном микроскопе в качестве «света» применяется поток электронов, а взамен стеклянных линз — электрические или магнитные поля, собирающие или рассеивающие поток электронов. Разрешающая способность электронного микроскопа очень велика. Теоретически здесь возможны увеличения до 20000 раз.

Правда, практически осуществить увеличения такого порядка представляет пока еще очень большие трудности.

Если рассмотреть клеевой слой под микроскопом, то видно, что слой представляет конгломерат зерен разной — величины — от 100 до 1000 А. Темные пятна — кристаллики пленки, светлые участки — либо очень тонкие участки, либо поры. Черные полосы вызваны, вероятно, утолщениями клея у шлифовочных царапин. Исследование более толстых слоёв (железный образец с цветами побежалости голубого оттенка) обнаружило многочисленные поры в пленке, число которых доходит иногда до 108 на 1 мм2. Очень интересные результаты получились также при исследовании промежуточных клеевых слоев на алюминии.

Очень тонкий клеевой слой на анодно-обработанном алюминии оказался бесструктурным. Темные участки — это по всей вероятности, не растворившиеся включения алюминия или загрязнения в нем. Более толстые пленки обнаруживают зернистую структуру с многочисленными порами. Окисленная пленка с алюминиевого образца в газовом пламени, обладает весьма тонко-зернистым строением; каждое зерно представляет, по видимому, маленький кристаллик. Диаметр пор в пленке на алюминии — порядка 50 — 100 А.

Приведенные результаты являются только первой попыткой установления тонкой структуры клеевых слоев при помощи электронного микроскопа. Несомненно, этот метод позволит в близком будущем установить весьма интересные детали возникновения и строения клеевых слоев на металлах.

Этими опытами Эванс непосредственно доказал реальность существования невидимых адгезионных прослоек на железе. Пленки адгезионные слои средней толщины, дающие цвета побежалости, также могут быть изолированы при помощи методов Эванса. Обычно они оказываются менее прозрачными вследствие большей их толщины и несовершенства строения (включения, трещинки и т.д.).

Клеевой слой с поверхности алюминия можно изолировать при помощи пропускания сухого газообразного С12 над процарапанным алюминиевым образцом при повышенной температуре. Продукты разрушения металлического алюминия при этом удаляются вместе с током газа, и остается защитная пленка. Можно также разрушить алюминий, помещая на процарапанную поверхность металла каплю ртути.

Добавить комментарий

Ваш e-mail не будет опубликован. Обязательные поля помечены *

Создание сайтов Киев